浅析恒温晶振怎么测量好坏？

每种芯片的手册上都会提供外部晶振输入的标准电路，会表明芯片的最高可使用频率等参数，在设计电路时要掌握。与计算机用CPU不同，单片机现在所能接收的晶振频率相对较低，但对于一般控制电路来说足够了。晶体振荡器也分为无源晶振和有源晶振两种类型。无源晶振与有源晶振（谐振）的英文名称不同，无源晶振为crystal（晶体），而有源晶振则叫做oscillator（振荡器）。无源晶振需要借助于时钟电路才能产生振荡信号，自身无法振荡起来，所以“无源晶振”这个说法并不准确；有源晶振是一个完整的谐振振荡器。恒温晶振温补晶振，恒温晶振，压控晶振，普通钟振，这些都是有源晶振，所以有源晶振肯定需要电源加入才能工作恒温晶振

(4)温度探测线15根，每根长2到3米，线长以合适为宜，对每根线进行编号，在线两头做好标记；(5)数据采集板两块(型号:Agilent34901A或其他)，温度数据采集器一台(型号:Agilent34970A)；。恒温晶振，由于晶体振荡器的震荡频率会复随着温度的变化而变化，故为了保持频率的稳定性，将晶振控制在一个恒定的温度下工作以此来提高晶振的相频特性。恒温晶振1、每一个单独指标必须单独测试，不能同时测试几种指标，也不能同时测试几只晶振。2、测试时要严格按照标准的测试电路和测试环境进行测试恒温晶振

为保证测试数据的准确性，连续在两个_40°C至85°C测试循环内对恒温晶振进行测试，并且重复测试时可以改变恒温箱的温变速率，例如设定为3°C/min，重复上述测试过程，同样用计算机记录相应数据。S4.根据需要对计算机记录的各项数据进行汇总处理分析，如绘出时间曲线，得出恒温晶振内部最佳的晶体谐振器位置、功率管位置、热敏电阻位置、变容二极管位置、振荡电感位置，得到一个最佳的恒温槽结构，使得恒温晶振的稳定度达到最佳。。3、在没有相当的测试设备和测试人员的情况下，不建议客户自行测试晶振，更不能随意调试晶振，测试设备的等级应至少比晶振指标高一个数量级。

恒温晶振图1是本发明的测试方法示意图。具体实施例方式下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细的说明恒温晶振10）输出功率：施加规定电压和规定负载下，振荡器消耗的电能，用电压与消耗电流的积表示；11）输出电压（正弦波）：施加规定的电压和负载，在规定的时间内达到稳定后，用RF表测得的有效值或用示波器测量电压峰-峰值后换算的有效值。。材料准备:Cl)实验用恒温晶振，上盖带孔；(2)恒温晶振测试夹具，测试时恒温晶振加电测试；(3)数字频率计数和数字电流表；