广东压控晶振vctcxo批发厂家

52.将恒温晶振安装在测试夹具上，并接上数字电流表和频率计数器后，将其放入恒温箱内；53.设置恒温箱的测试温度范围及测试温度点，在此温度范围内对恒温晶振各探测点的温度进行采集，录入计算机，同时记录恒温晶振在每个测试温度点相应的输出频率以及电流值。其中，所述步骤SI中，在恒温晶振的上盖上开孔，测试恒温晶振内部探测点的温度探测线从该孔中穿过并做密封处理，其一端的电极粘接在恒温晶振内部的探测点上。其中，所述步骤SI中，恒温晶振内部选定的探测点包括晶体谐振器位置、功率管位置、热敏电阻位置、变容二极管位置及振荡电感位置，并且每个位置选2至3个点。其中，所述步骤SI中，恒温晶振内部选定的探测点的数目根据孔的大小和温度探测线的线径确定。其中，所述步骤S2中，设置恒温箱的初始温度为25°C，恒温晶振在此条件下加电工作I小时后再开始测试。其中，所述步骤S3中，设置恒温箱的测试温度范围为-40°c至85V，从_40°C开始测试，设定恒温箱的温变速率。其中，所述步骤S3中，在恒温箱的温度首次降为-40°c时保持30分钟才做测试。其中，所述步骤S3中，测试温度点依次为-4o°c、-3o°c、-2o°c、-1(rc、(rc、i(rc、20°C、30°C、40°C、50°C、60°C、70°C、80°C和85°C;利用计算机记录恒温晶振在各测试温度点的数据时，将恒温晶振在_40°C保持30分钟，在其它13个温度点各保持15分钟。其中，所述步骤S3中，连续在两个_40°C至85°C测试循环内对恒温晶振进行测试，并且重复测试时可以改变恒温箱的温变速率。采用上述技术方案所产生的有益效果在于:本发明基于电极探测采样法，将温度探测电极用高温胶粘合在恒温晶振内部，在恒温晶振内部形成多个探测点，通过温度数据采集卡读取各个探测点的温度，并根据需要对这些数据进行分析、处理，确定最佳的晶体谐振器位置、功率管位置、热敏电阻位置、变容二极管位置、振荡电感位置，这样得到一个最优的恒温槽结构，使得晶体谐振器的周围环境温度变化量最小，恒温晶振的温度稳定性最好；还可以根据测试到的数据，增加加温度补偿器件，使恒温晶振的温度稳定度更好。通过上述过程指导恒温晶振恒温槽的设计工作。本发明为高稳定度恒温晶振的设计奠定了良好的基础，使恒温晶振的设计者可以节省大量的时间，极大缩短恒温晶振的设计周期，保证设计质量。并且具有操作简单、灵敏度高、精度好、判定准确可靠等特点，尤其适用于设计稳定度较高指标的恒温晶振。压控晶振vctcxo引言：对时钟同步的保持模式如何达到一个更高的性价比是通信设备厂商遇到的一个普遍难题，为了能更清楚地解释这些问题，笔者撰文分析了各种不同等级的晶振产品对时钟保持模式的影响压控晶振vctcxo

第二种3E晶振：温度稳定度5E-8（-30~70℃）年老化1E-7日老化1E-9不做算法优化一般在有空调的密闭环境下，24小时的环境温度变化大约为±2度，5小时的环境温度变化大约为1度。对于2B晶振温度漂移=（3E-9/（30+70））*1=0.3E-10。TD-SCDMA系统时钟指标TD-SCDMA基站的时间同步需求描述见技术规范3GPPTR25.836,要求提供NodeB的物理层（码、帧、时隙）同步，保证所有NodeB同时发送同时接收，相位精度为压控晶振vctcxo恒温晶体振荡器电路晶振当前温度对应的电压与标称电压值通过温控放大器进行差放,驱动发热元件使槽内晶体温度总是保持在其高温拐点,这样的晶振称为恒温晶振压控晶振vctcxo

2.根据权利要求1所述的一种提高恒温晶振频率稳定度的方法，其特征在于:所述步骤SI中，在恒温晶振的上盖上开孔，测试恒温晶振内部探测点的温度探测线从该孔中穿过并做密封处理，其一端的电极粘接在恒温晶振内部的探测点上。。与前面所述各种晶振相比,此是最为稳定的种晶振。它基于冷压焊晶体和内热式晶体,相应的振荡器便称为冷压焊晶体振荡器和内热式晶体振荡器。

压控晶振vctcxo10、输出功率：施加规定电压和规定负载下，振荡器消耗的电能，用电压与消耗电流的积表示；11、输出电压（正弦波）：施加规定的电压和负载压控晶振vctcxo恒温晶振经过校准后的频率偏差小于0．01Hz，在1PPS准确输出时，累加1PPS具有的100ns误差，授时模块输出的时间信息误差小于105ns。当GPS接收机未正常工作时，由于恒温晶振前期经过频率校准和自身较高的稳定度，在一定时间内依然可以保证高精度的授时功能。，在规定的时间内达到稳定后，用RF表测得的有效值或用示波器测量电压峰-峰值后换算的有效值。