广东温补晶振厂家

假设晶振老化率为常数,式(210)变为：其中当|Bt|y(t)=C+ABt式(2-18)图2.4给出了典型的老化率数学模型。可以看出石英晶振的老化率可以为正数可以为负数,也可能会产生图中曲线y3(t)的情况。图2.5为铷原子频标的老化曲线,由于测试曲线的后半段存在参考和被测之间因漂移方向相同的现象,从而导致漂移问题不是很明显。温补晶振恒温晶振与温补晶振都属于晶体振荡器，都是有源晶振，所以组成的震荡电路都需要电源加入才能工作。下面将简单介绍一下两者的区别。恒温晶体振荡器简称恒温晶振，英文简称为OCXO（OvenControlledCrystalOscillator）温补晶振

3、恒温晶振主要参数：1）、频率准确度：按规定条件要求，在基准温度下测试，晶体振荡器的频率相对于其规定标称值的最大允许偏差，即（f-f0）/f0；2）、频率－温度稳定度：按规定条件要求，在规定温度范围内晶体振荡器输出频率的最大变化量相对于温度范围内输出频率极值之和的允许频偏值，即±（fmax-fmin）/（fmax+fmin）；，是利用恒温槽使晶体振荡器中石英晶体谐振器的温度保持恒定，将由周围温度变化引起的振荡器输出频率变化量削减到最小的晶体振荡器。OCXO是由恒温槽控制电路和振荡器电路构成的。通常人们是利用热敏电阻“电桥“构成的差动串联放大器，来实现温度控制。⒉在主板上常见的时钟晶振：有14.318M（主时钟）与32.768HZ（南桥旁边的时钟）⒊时钟IC芯片简介：他主要起着放大频率和缩小频率的作用，他和晶振组合后才能在主板上起作用。我们把他称做为时钟发生器（晶振+时钟IC芯片）

温补晶振恒温晶振、温补晶振的调试及测试时的注意点1)每一个单独指标必须单独测试,不能同时测试几种指标,也不能同时测试几只晶振5）、稳定时间：振荡器从初始加电到稳定工作在规定极限值所需要的时间；6、相位噪声：是指信号功率和噪声功率的比率（C/N），是表征频率颤抖的技术指标。在对预期信号既定补偿处，以1Hz带宽为单位来测量相位噪声；。2)测试时要严格按照标准的测试电路和测试环境进行测试。3)在没有相当的测试设备和测试人员的情况下,不建议客户自行测试晶振,更不能随意调试晶振,测试设备的等级应至少比晶振指标高一个数量级。

温补晶振1.近端仍旧是电路的噪声在起主要作用，高Q值晶体的效果没有得到发挥。2.晶体的有载Q值比空载Q值下降很多，以至于各种晶体的有载Q值差别不大，所以相噪相差不大温补晶振5、时钟晶振（ClockOscilator）时钟晶振是一种用逻辑门电路做成的晶体振荡器（钟振）。特点：采用逻辑门电路作为有源器件，可产生方波推动数字电路;频率范围：10KHz～60MHz;频率稳定度：10-4～10-5；可作时钟控制产生cp脉冲。。总结来说，在低噪声晶振的设计中，电路是非常重要的环节，振荡电路应该要使晶体的有载Q值不致下降很多，并且电路附加的噪声要足够小。一般性的设计中，不必一味追求晶体的高Q值（对老化率有要求的除外），用低成本的晶体加上设计良好的电路（电路的成本也许只要几元钱）也能得到不错的相位噪声水平。