设置恒温箱的初始温度为25°c，
恒温晶振在此条件下加电工作I小时后再开始测试。S3.设置恒温箱的测试温度范围为-40V至85°C，测试温度点依次为-4(rc、-3(rc、-2(rc、-1(rc、(rc、i(rc、2(rc、3(rc、4(rc、5(rc、6(rc、7(rc、8(rc和85°c；从-40°C开始测试，设定恒温箱的温变速率为1°C/min，在恒温箱的温度首次降为_40°C时保持30分钟才做测试；利用计算机采集并记录恒温晶振在各测试温度点的温度、输出频率以及电流值时，将恒温晶振在_40°C保持30分钟，在其它13个温度点各保持15分钟。
晶振定制1、频率准确度：按规定条件要求，在基准温度下测试，晶体振荡器的频率相对于其规定标称值的最大允许偏差
即：使用3E晶振在不做算法优化下，时钟只能保持0.6个小时漂移在1.5μS以内。做算法优化算法优化分为温度特性优化以及老化率优化。晶振的温度特性漂移速度以及漂移量取决于晶振所处的环境温度点、环境的温变速度、设备机箱的温度传递速度以及晶体的迟滞特性，晶振频率漂移与温度变化的关系类似于一个加速阻尼振荡，是个5次函数关系，而温度传感器对于温度变化的响应速度是非常快的，如要简单依赖温度传感器对晶振的温度特性做优化，会带来温度补偿超前或滞后，导致频率晃动加上，短稳、抖动指标都将恶化，而且优化系统很难预知其他温度点晶振的漂移值。，即（f-f0）/f0；2、频率－温度稳定度：按规定条件要求晶振定制，在规定温度范围内晶体振荡器输出频率的最大变化量相对于温度范围内输出频率极值之和的允许频偏值，即±（fmax-fmin）/（fmax+fmin）；6.根据权利要求1所述的一种提高恒温晶振频率稳定度的方法，其特征在于:所述步骤S3中，设置恒温箱的测试温度范围为_40°C至85V，从_40°C开始测试，设定恒温箱的温变速率。7.根据权利要求6所述的一种提高恒温晶振频率稳定度的方法，其特征在于:所述步骤S3中，在恒温箱的温度首次降为_40°C时保持30分钟才做测试。
晶振定制不存在哪种产品好哪种产品不好，主要是看需要。性能高的产品价格必然贵，对使用的需求也高2、有源晶振——有源晶振不需要DSP的内部振荡器，信号质量好，比较稳定，而且连接方式相对简单（主要是做好电源滤波，通常使用一个电容和电感构成的PI型滤波网络，输出端用一个小阻值的电阻过滤信号即可），不需要复杂的配置电路。有源晶振通常的用法：一脚悬空，二脚接地，三脚接输出，四脚接电压。相对于无源晶体，有源晶振的缺陷是其信号电平是固定的，需要选择好合适输出电平，灵活性较差，而且价格高。对于时序要求敏感的应用，个人认为还是有源的晶振好，因为可以选用比较精密的晶振，甚至是高档的温度补偿晶振。有些DSP内部没有起振电路，只能使用有源的晶振，如TI的6000系列等。有源晶振相比于无源晶体通常体积较大，但现在许多有源晶振是表贴的，体积和晶体相当，有的甚至比许多晶体还要小。。适用的才是最好的。理论上来讲一般的恒温晶振要比
温补晶振频率稳定度高两个数量级以上。恒温晶振一般用于高端测量仪器，如频率计、信号发生器、网络分析仪等。而温补晶振的开机特性较好。
晶振定制晶振作为一个某产品内部的被动元件，在生产、保存及使用的过程中，总会不轻易地出现一些小问题，对于不是晶振厂商的来说，无疑是一件非常烧脑的事情晶振定制石英晶体的压电效应：若在石英晶体的两个电极上加一电场，晶片就会产生机械变形。反之，若在晶片的两侧施加机械压力，则在晶片相应的方向上将产生电场，这种物理现象称为压电效应。注意，这种效应是可逆的。如果在晶片的两极上加交变电压，晶片就会产生机械振动，同时晶片的机械振动又会产生交变电场。在一般情况下，晶片机械振动的振幅和交变电场的振幅非常微小，但当外加交变电压的频率为某一特定值时，振幅明显加大，比其他频率下的振幅大得多，这种现象称为压电谐振，它与LC回路的谐振现象十分相似。它的谐振频率与晶片的切割方式、几何形状、尺寸等有关。。小扬今天整理专业工程师总结出几点晶振使用异常问题分析及解决方法，希望可以给大家提供相应帮助!1、频偏造成的使用异常异常现象：色彩图像不正常；音频杂音，无数据传输，距离短，遥控无反应。
