广东压控晶振vctcxo工作原理

3、恒温晶振主要参数：1）、频率准确度：按规定条件要求，在基准温度下测试，晶体振荡器的频率相对于其规定标称值的最大允许偏差，即（f-f0）/f0；2）、频率－温度稳定度：按规定条件要求，在规定温度范围内晶体振荡器输出频率的最大变化量相对于温度范围内输出频率极值之和的允许频偏值，即±（fmax-fmin）/（fmax+fmin）；压控晶振vctcxo温补晶振，恒温晶振，压控晶振，普通钟振，这些都是有源晶振，所以有源晶振肯定需要电源加入才能工作压控晶振vctcxo

系列实验表明,估计性能对d0、d和M的取值不是很敏感,建议取值为d=1~05d(M-1),d=0.1~1.0,M=5~10。加权对数函数模型的缺点是计算比较复杂。2.2.4晶振的频率温度特性除过老化的影响,温度也是影响频率变化的主要因素,而不同切型的石英晶振晶体的频率一温度特性是不一样的,一般AT切基频晶体的频率一温度变化关系都是三次曲线,存在若干个零温度系数点,如图2.6所示。。恒温晶振，由于晶体振荡器的震荡频率会复随着温度的变化而变化，故为了保持频率的稳定性，将晶振控制在一个恒定的温度下工作以此来提高晶振的相频特性。压控晶振vctcxo1、每一个单独指标必须单独测试，不能同时测试几种指标，也不能同时测试几只晶振。2、测试时要严格按照标准的测试电路和测试环境进行测试压控晶振vctcxo

温度漂移=（3E-9/（30+70））*1=0.3E-1012小时老化漂移=（3E-10/24）*12/100=0.02E-10所以保持指标达到1.5μS的小时=（（1.5*10E10/10E6）/（60*60））/（0.3+0.015）=13.2H。3、在没有相当的测试设备和测试人员的情况下，不建议客户自行测试晶振，更不能随意调试晶振，测试设备的等级应至少比晶振指标高一个数量级。

压控晶振vctcxo当恒温槽的工作温度波动被控制在很小范围内时,如优于百分之一摄氏度时,其频率温度变化也可以被限制在很小的范围内,而且正是由于这种恒温作用,其频率温度变化曲线非常接近于线性压控晶振vctcxo石英晶片的切型大致可以分为AT切、BT切、CT切、DT切等，不同的切型，所对应的频率温度曲线不一样，可以采用AT切32.768KHZ钟振来解决难题。音叉32.768KHZ晶体频率温度曲线为二次抛物线，随着工作温度偏离常温25℃越远，温漂也随之变大，-10℃~60℃其温漂达到将近50ppm，如按工业级-40℃~85℃计算，温漂高达151ppm，难以适应工业级工作温度范围的电子产品，对其进行温度补偿也较为困难，因此，市面上针对32.768KHZ的TCXO很少，且价格极为昂贵。对于一般的消费类电子行业，如需工业级-40℃~85℃，且温度频差控制在±30ppm以内，使用普通音叉型32.768KHZ晶体，是无法满足要求的。然而，如果能将晶片切型改为AT切的切型，那么工业级温度频差控制在±30ppm以内将不成问题。。所以对OCXO恒温晶振的频率温度变化的预测可以采用线性数学模型,而Kalman滤波算法正是一种较好的线性模型估计器,因此用它来拟合OCXO恒温晶振的频率温度特性曲线是合适的。