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发布时间:2022-03-20   点击量:469

9.根据权利要求6所述的一种提高恒温晶振频率稳定度的方法,其特征在于:所述步骤S3中,连续在两个_40°C至85°C测试循环内对恒温晶振进行测试,并且重复测试时可以改变恒温箱的温变速率。全文摘要本发明公开了一种提高恒温晶振频率稳定度的方法,包括步骤S1.在恒温晶振内部选定关键器件位置和探测点,将温度探测线电极粘接在探测点上,其另一端通过数据采集器连接至计算机;S2.将恒温晶振安装好放入恒温箱内;S3.设置恒温箱的温度范围和温变斜率,在连续两个循环内,利用计算机记录各探测点的温度数据、对应输出频率和电流值。本发明为高稳定度恒温晶振的设计奠定了良好的基础,使得恒温晶振的设计者减少对经验的依赖并使得恒温晶振的设计周期大大缩短,提高恒温晶振的稳定度指标,保证设计质量。该方法具有操作简单、灵敏度高、精度好、判定准确可靠等特点,为设计者设计高稳定度的恒温晶振提供可靠的数据。压控晶振vctcxo温补晶振,恒温晶振,压控晶振,普通钟振,这些都是有源晶振,所以有源晶振肯定需要电源加入才能工作压控晶振vctcxo

晶体振荡器电路设计的7个主要注意事项1.串联电路串联电路晶体振荡器使用设计为以其自然谐振频率工作的晶体。对于这种类型的电路,在反馈回路中不需要电容器。串联谐振振荡器电路是相当基本的,并且由于其元件数量少而通常被使用。串联电路可以提供除通过晶体以外的反馈路径。这意味着即使在晶体故障期间,电路也可能继续以主观频率振荡。。恒温晶振,由于晶体振荡器的震荡频率会复随着温度的变化而变化,故为了保持频率的稳定性,将晶振控制在一个恒定的温度下工作以此来提高晶振的相频特性。压控晶振vctcxo1、每一个单独指标必须单独测试,不能同时测试几种指标,也不能同时测试几只晶振。2、测试时要严格按照标准的测试电路和测试环境进行测试压控晶振vctcxo

恒温晶振温补晶振恒温晶振,由于晶体振荡器的震荡频率会随着温度的变化而变化,故为了保持频率的稳定性,将晶振控制在一个恒定的温度下工作以此来提高晶振的相频特性。温补晶振,由于晶体振荡器的震荡频率会随着温度的变化而变化,为了抵消温度对晶振频率的影响,控制晶振的谐振电容随温度变化而变化,抵消温度晶体影响提高频率稳定性。。3、在没有相当的测试设备和测试人员的情况下,不建议客户自行测试晶振,更不能随意调试晶振,测试设备的等级应至少比晶振指标高一个数量级。

压控晶振vctcxo1.近端仍旧是电路的噪声在起主要作用,高Q值晶体的效果没有得到发挥。2.晶体的有载Q值比空载Q值下降很多,以至于各种晶体的有载Q值差别不大,所以相噪相差不大压控晶振vctcxo6.根据权利要求1所述的一种提高恒温晶振频率稳定度的方法,其特征在于:所述步骤S3中,设置恒温箱的测试温度范围为_40°C至85V,从_40°C开始测试,设定恒温箱的温变速率。7.根据权利要求6所述的一种提高恒温晶振频率稳定度的方法,其特征在于:所述步骤S3中,在恒温箱的温度首次降为_40°C时保持30分钟才做测试。。总结来说,在低噪声晶振的设计中,电路是非常重要的环节,振荡电路应该要使晶体的有载Q值不致下降很多,并且电路附加的噪声要足够小。一般性的设计中,不必一味追求晶体的高Q值(对老化率有要求的除外),用低成本的晶体加上设计良好的电路(电路的成本也许只要几元钱)也能得到不错的相位噪声水平。
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