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温补型晶振产品
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佛山tcxo晶振生产商

发布时间:2022-06-02   点击量:657

52.将恒温晶振安装在测试夹具上,并接上数字电流表和频率计数器后,将其放入恒温箱内;53.设置恒温箱的测试温度范围及测试温度点,在此温度范围内对恒温晶振各探测点的温度进行采集,录入计算机,同时记录恒温晶振在每个测试温度点相应的输出频率以及电流值。其中,所述步骤SI中,在恒温晶振的上盖上开孔,测试恒温晶振内部探测点的温度探测线从该孔中穿过并做密封处理,其一端的电极粘接在恒温晶振内部的探测点上。其中,所述步骤SI中,恒温晶振内部选定的探测点包括晶体谐振器位置、功率管位置、热敏电阻位置、变容二极管位置及振荡电感位置,并且每个位置选2至3个点。其中,所述步骤SI中,恒温晶振内部选定的探测点的数目根据孔的大小和温度探测线的线径确定。其中,所述步骤S2中,设置恒温箱的初始温度为25°C,恒温晶振在此条件下加电工作I小时后再开始测试。其中,所述步骤S3中,设置恒温箱的测试温度范围为-40°c至85V,从_40°C开始测试,设定恒温箱的温变速率。其中,所述步骤S3中,在恒温箱的温度首次降为-40°c时保持30分钟才做测试。其中,所述步骤S3中,测试温度点依次为-4o°c、-3o°c、-2o°c、-1(rc、(rc、i(rc、20°C、30°C、40°C、50°C、60°C、70°C、80°C和85°C;利用计算机记录恒温晶振在各测试温度点的数据时,将恒温晶振在_40°C保持30分钟,在其它13个温度点各保持15分钟。其中,所述步骤S3中,连续在两个_40°C至85°C测试循环内对恒温晶振进行测试,并且重复测试时可以改变恒温箱的温变速率。采用上述技术方案所产生的有益效果在于:本发明基于电极探测采样法,将温度探测电极用高温胶粘合在恒温晶振内部,在恒温晶振内部形成多个探测点,通过温度数据采集卡读取各个探测点的温度,并根据需要对这些数据进行分析、处理,确定最佳的晶体谐振器位置、功率管位置、热敏电阻位置、变容二极管位置、振荡电感位置,这样得到一个最优的恒温槽结构,使得晶体谐振器的周围环境温度变化量最小,恒温晶振的温度稳定性最好;还可以根据测试到的数据,增加加温度补偿器件,使恒温晶振的温度稳定度更好。通过上述过程指导恒温晶振恒温槽的设计工作。本发明为高稳定度恒温晶振的设计奠定了良好的基础,使恒温晶振的设计者可以节省大量的时间,极大缩短恒温晶振的设计周期,保证设计质量。并且具有操作简单、灵敏度高、精度好、判定准确可靠等特点,尤其适用于设计稳定度较高指标的恒温晶振。tcxo晶振恒温晶振得主要优点是:由于采用了恒温槽的技术,频率温度特性会在所有类型晶振之中是最好得;由于电路设计很精密tcxo晶振

温度漂移=(3E-9/(30+70))*1=0.3E-1012小时老化漂移=(3E-10/24)*12/100=0.02E-10所以保持指标达到1.5μS的小时=((1.5*10E10/10E6)/(60*60))/(0.3+0.015)=13.2H,其短稳与相位噪声都会比较好.主要的缺点是需5分钟左右得加热时间才可以正常的工作.所以在测试恒温晶振之时会需对其进行开机5分钟的测试,测试指标包括了:tcxo晶振1、每一个单独指标必须单独测试,不能同时测试几种指标,也不能同时测试几只晶振。2、测试时要严格按照标准的测试电路和测试环境进行测试tcxo晶振

在使用时,陶瓷谐振槽路和相应的负载电容必须根据特定的逻辑系列进行优化。具有高Q值的晶振对放大器的选择并不敏感,但在过驱动时很容易产生频率漂移(甚至可能损坏)。影响振荡器工作的环境因素有:电磁干扰(EMI)、机械震动与冲击、湿度和温度。这些因素会增大输出频率的变化,增加不稳定性,并且在有些情况下,还会造成振荡器停振。振荡器模块上述大部分问题都可以通过使用振荡器模块避免。这些模块自带振荡器、提供低阻方波输出,并且能够在一定条件下保证运行。最常用的两种类型是晶振模块和集成硅振荡器。。3、在没有相当的测试设备和测试人员的情况下,不建议客户自行测试晶振,更不能随意调试晶振,测试设备的等级应至少比晶振指标高一个数量级。

tcxo晶振恒温石英晶体振荡器温度特性试验的升温速率是有标准的.简要说明如下:一、环境试验箱温度应按阶梯(或按规定速率直线)式升高tcxo晶振输出幅度都在9dBm左右。测试相噪结果如下:要从理论上来解释这个结果,有些困难甚至有些牵强。不过我还是尝试一下。先看远端10KHz以外的相噪,晶体C最好,这或许是因为使用了较高的电源电压,因此输出信噪比较好。晶体A与B相比,A的远端相噪较好,这可能是基于以下2点:,并在每次温度调整时都要有规定的稳定时间.注:在某些应用场合.可能要求测定从最低温度升到最高温度与从最高温度降劐最低温度之间频率温度特性的再现性.
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