我们都知道晶振大致有两种-有源和无源，对于有源晶振通常都为四脚或四脚以上的脚位，内置起振芯片，是一个完整的振荡器，只要接通电源就可以起振，大类称之为主动元器件。而无源晶振则需要外接电容进行起振。有源晶振的频率输出一定要有某个波形作为输出载体，波形的输出也一定会伴随着某个负载值。在实际使用中，波形负载也是晶振的非常重要参数目标。挑选不妥的话，轻则导致晶振或别的模块作业不正常，功用无法完成，重则损坏模块甚至整机。晶振
恒温晶振是利用恒温槽使晶体振荡器中石英晶体谐振器的温度保持恒定，将由周围温度变化引起的振荡器输出频率变化量削减到最小的晶体振荡器晶振
6.根据权利要求1所述的一种提高恒温晶振频率稳定度的方法，其特征在于:所述步骤S3中，设置恒温箱的测试温度范围为_40°C至85V，从_40°C开始测试，设定恒温箱的温变速率。7.根据权利要求6所述的一种提高恒温晶振频率稳定度的方法，其特征在于:所述步骤S3中，在恒温箱的温度首次降为_40°C时保持30分钟才做测试。。OCXO是由恒温槽控制电路和振荡器电路构成的。通常人们是利用热敏电阻“电桥"构成的差动串联放大器，来实现温度控制。晶振2、恒温晶体振荡器专业术语1）频率准确度：按规定条件要求，在基准温度下测试，晶体振荡器的频率相对于其规定标称值的最大允许偏差晶振
(6)恒温箱一台，温变速率可控；(7)计算机以及相应软件；(8)电源及其他连接线。本发明的具体实施步骤包括:S1.在恒温晶振内部选定温度探测点:恒温晶振的上盖开孔；在恒温晶振内部选定包括晶体谐振器位置、功率管位置、热敏电阻位置、变容二极管位置及振荡电感位置5个位置，每个位置选2至3个点，探测点的数目根据孔的大小和温度探测线的线径确定。因为线(探测点)太多会对恒温晶振内部的温度场产生影响，线(探测点)太少恒温晶振的内部热量可能从上盖孔往外散发，都会影响测试效果；打开恒温晶振上盖，将温度探测线穿过恒温晶振上盖上的孔，用高温胶将温度探测线的电极粘接在选定的探测点上，粘接好后，按照线的序号登记探测点位置，盖上恒温晶振上盖，尽量做好密封处理。，即（f-f0）/f0；2）频率－温度稳定度：按规定条件要求，在规定温度范围内晶体振荡器输出频率的最大变化量相对于温度范围内输出频率极值之和的允许频偏值，即±（fmax-fmin）/（fmax+fmin）；
晶振恒温石英晶体振荡器温度特性试验的升温速率是有标准的.简要说明如下：一、环境试验箱温度应按阶梯（或按规定速率直线）式升高,并在每次温度调整时都要有规定的稳定时间．注：在某些应用场合．可能要求测定从最低温度升到最高温度与从最高温度降劐最低温度之间频率温度特性的再现性.二、在升温和降温时的特性差称为重现误差(relltoeerror)或滞后(hysteresis)三、在振荡器输入功率受强制气流影响时晶振2、恒温晶体振荡器专业术语1）频率准确度：按规定条件要求，在基准温度下测试，晶体振荡器的频率相对于其规定标称值的最大允许偏差，即（f-f0）/f0；2）频率－温度稳定度：按规定条件要求，在规定温度范围内晶体振荡器输出频率的最大变化量相对于温度范围内输出频率极值之和的允许频偏值，即±（fmax-fmin）/（fmax+fmin）；,可使用挡风箱来模拟静态空气条件．四、对于直线升温试验,除非在详细规范另有说明,其温度变化速率应低0.5℃/min.五、对于不连续升温试验,如果没有给出明确温度值,其递增梯阶,应不超过1.5℃并且在每调一次环境温度都应有适当的稳定时间．六、除非详细规范另有规定,振荡器达到稳定所需的时间总要超过温度稳定时间的二倍.
