东莞压控晶振vctcxo设计

所有温度探测线的另外一端均连接到一块数据采集卡上，并对其序号进行登记，记录探测点位置和名称，将两块数据采集卡插入数据采集器上，开启数据采集器，确认每个数据读取的正确性；将数据采集器连接到计算机，通过计算机读取各个数据探测点的温度数据。S2.将恒温晶振安装在测试夹具上，并接上数字电流表和频率计数器后，将其放入恒温箱内；并将这些设备都连接到计算机上，见图1所示的测试方法示意图。开启恒温箱、测试夹具、数字频率计、数字电流表、温度数据采集器以及计算机和相关软件。压控晶振vctcxo恒温晶振得主要优点是:由于采用了恒温槽的技术,频率温度特性会在所有类型晶振之中是最好得;由于电路设计很精密压控晶振vctcxo

第二种3E晶振：温度稳定度5E-8（-30~70℃）年老化1E-7日老化1E-9不做算法优化一般在有空调的密闭环境下，24小时的环境温度变化大约为±2度，5小时的环境温度变化大约为1度。对于2B晶振温度漂移=（3E-9/（30+70））*1=0.3E-10,其短稳与相位噪声都会比较好.主要的缺点是需5分钟左右得加热时间才可以正常的工作.所以在测试恒温晶振之时会需对其进行开机5分钟的测试,测试指标包括了:压控晶振vctcxoOCXO(恒温晶体振荡器)产品概述：1、超低相噪插件OCXO(恒温晶体振荡器)，尺寸为：25.4×25.4×12.7mm压控晶振vctcxo

依照文中方案设计两套完全独立的系统，以其中一套系统的恒温晶振的时钟信号为基准，每秒与另一套系统的恒温晶振的时钟信号对比一次，相位差用300MHz的时钟进行量化，测量分辨力为3．3ns，部分测试结果如图7所示。图7(a)显示每秒测得的相位差；由于存在测量误差，因此采用滑动平均滤波的方法，在每秒测量两套系统相位差的同时，计算出最近200次的平均相位差，如图7(b)所示。表2对图7的实际测量数据进行统计，7(b)中的均方差是0．68度，四分位差为O．60度，说明两套独立系统的频率一致性很高，具有良好的稳定度。。2、采用SC切割晶体。3、5~40MHz频率输出范围，常用频率：10MHz,12.8MHz,13MHz,15.36MHz,16.384MHz,19.2MHz,20MHz,25MHz,38.88MHz等。

压控晶振vctcxo图1是本发明的测试方法示意图。具体实施例方式下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细的说明压控晶振vctcxo一般的晶振的负载电容为15p或12.5p，如果再考虑元件引脚的等效输入电容，则两个22p的电容构成晶振的振荡电路就是比较好的选择。晶体振荡器也分为无源晶振和有源晶振两种类型。无源晶振与有源晶振（谐振）的英文名称不同，无源晶振为crystal（晶体），而有源晶振则叫做oscillator（振荡器）。无源晶振需要借助于时钟电路才能产生振荡信号，自身无法振荡起来，所以“无源晶振”这个说法并不准确；有源晶振是一个完整的谐振振荡器。。材料准备:Cl)实验用恒温晶振，上盖带孔；(2)恒温晶振测试夹具，测试时恒温晶振加电测试；(3)数字频率计数和数字电流表；