即：使用2B晶振在做算法优化的前提下，时钟可以保持13.2个小时漂移在1.5μS以内。对于3E晶振（由于温度特性过于差，导致老化优化只能大约提升1个数量级）温度漂移=（5E-8/（30+70））*1=5E-10tcxo晶振作为
恒温晶振OCXO或
温补晶振TCXO,常用的有100M晶振，而100MHz是一个常用的频率tcxo晶振
9.根据权利要求6所述的一种提高恒温晶振频率稳定度的方法，其特征在于:所述步骤S3中，连续在两个_40°C至85°C测试循环内对恒温晶振进行测试，并且重复测试时可以改变恒温箱的温变速率。全文摘要本发明公开了一种提高恒温晶振频率稳定度的方法，包括步骤S1.在恒温晶振内部选定关键器件位置和探测点，将温度探测线电极粘接在探测点上，其另一端通过数据采集器连接至计算机；S2.将恒温晶振安装好放入恒温箱内；S3.设置恒温箱的温度范围和温变斜率，在连续两个循环内，利用计算机记录各探测点的温度数据、对应输出频率和电流值。本发明为高稳定度恒温晶振的设计奠定了良好的基础，使得恒温晶振的设计者减少对经验的依赖并使得恒温晶振的设计周期大大缩短，提高恒温晶振的稳定度指标，保证设计质量。该方法具有操作简单、灵敏度高、精度好、判定准确可靠等特点，为设计者设计高稳定度的恒温晶振提供可靠的数据。。从切型和振动模式来看，常用的有以下3种晶体：AT切3次泛音、AT切5次泛音、SC切5次泛音。前一种通常用来制作温补晶振TCXO,后2种用来制作恒温晶振OCXO.这是因为：内热式石英晶体振荡器电路内热式品体是将用作加热器和传感器的PTC热敏电阻装在毛坯晶体支架金属座上,紫外线清洗后环氧树脂填充。这样的振荡器具有低的相位噪声，小的电流损耗。还有一种内热式用组合加热器。它由小型薄膜元件与微型NTC热敏电阻组成。将它们一块直接装在毛坯晶体上,而功率管装在特制支架底座上。这种组合式的优点是快速预热和小功耗,其预热时同只要30秒。内热式的缺点。
tcxo晶振影响时钟保持指标关键器件--晶振的重要指标保持模式下的漂移=晶振的日老化+晶振日波动+晶振温度漂移+电源特性漂移其中晶振日波动漂移是由于环境温度在24小时存在大约±2度的变化导致晶振温度补偿超前或滞后带来的频率变化，主要取决于晶振的温度特性。即：使用3E晶振在不做算法优化下，时钟只能保持0.6个小时漂移在1.5μS以内。做算法优化算法优化分为温度特性优化以及老化率优化。晶振的温度特性漂移速度以及漂移量取决于晶振所处的环境温度点、环境的温变速度、设备机箱的温度传递速度以及晶体的迟滞特性，晶振频率漂移与温度变化的关系类似于一个加速阻尼振荡，是个5次函数关系，而温度传感器对于温度变化的响应速度是非常快的，如要简单依赖温度传感器对晶振的温度特性做优化，会带来温度补偿超前或滞后，导致频率晃动加上，短稳、抖动指标都将恶化，而且优化系统很难预知其他温度点晶振的漂移值。
tcxo晶振图1是本发明的测试方法示意图。具体实施例方式下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细的说明tcxo晶振4、恒温晶振与温补晶振的区别温补晶振：TCXO，普通的振荡器内置温度曲线补偿电路，频率稳定度可以做到+/-0.5ppm，一般的也能做到+/-2ppm可以实现。消耗电流一般小于几十mA。是最常见的高精度的产品。在通讯终端中很常见。更好的如EPSON(爱普生)TG-5500CA系列温补晶振已经实现0.1ppm的高精度和20年的高稳定性。。材料准备:Cl)实验用恒温晶振，上盖带孔；(2)恒温晶振测试夹具，测试时恒温晶振加电测试；(3)数字频率计数和数字电流表；
