东莞温补晶振一级代理商

即：使用3E晶振在不做算法优化下，时钟只能保持0.6个小时漂移在1.5μS以内。做算法优化算法优化分为温度特性优化以及老化率优化。晶振的温度特性漂移速度以及漂移量取决于晶振所处的环境温度点、环境的温变速度、设备机箱的温度传递速度以及晶体的迟滞特性，晶振频率漂移与温度变化的关系类似于一个加速阻尼振荡，是个5次函数关系，而温度传感器对于温度变化的响应速度是非常快的，如要简单依赖温度传感器对晶振的温度特性做优化，会带来温度补偿超前或滞后，导致频率晃动加上，短稳、抖动指标都将恶化，而且优化系统很难预知其他温度点晶振的漂移值。温补晶振恒温晶振，全称是恒温晶体振荡器，英文简称为OCXO。恒温晶振是利用恒温槽使晶体振荡器中石英晶体谐振器的温度保持恒定温补晶振

2．2电路设计D／A芯片选用TI公司TLV5616，它是低功耗单片12位串行数模转换器，分辨率为4096，该芯片采用三线制(SCLK、SYNC、DIN)串行接口，SCLK方波信号为下降沿时，TLV5616读取DIN的电平信号，转化成相应的电压送往恒温晶振，用于晶振的微调，晶振频率调整硬件电路如图4所示。，将由周围温度变化引起的振荡器输出频率变化量削减到最小的晶体振荡器。今天松季电子介绍关于恒温晶振的调试需要注意四个方面。8.根据权利要求6所述的一种提高恒温晶振频率稳定度的方法，其特征在于:所述步骤S3中，测试温度点依次为-40O、-30O、-20O、-10O、OO、10O、20V、30O、40V、50O、60°C、70°C、8(rC和85°C;利用计算机记录恒温晶振在各测试温度点的数据时，将恒温晶振在_40°C保持30分钟，在其它13个温度点各保持15分钟。

温补晶振恒温晶振、温补晶振的调试及测试时的注意点1)每一个单独指标必须单独测试,不能同时测试几种指标,也不能同时测试几只晶振晶振在电气上可以等效成一个电容和一个电阻并联再串联一个电容的二端网络，电工学上这个网络有两个谐振点，以频率的高低分其中较低的频率为串联谐振，较高的频率为并联谐振。由于晶体自身的特性致使这两个频率的距离相当的接近，在这个极窄的频率范围内，晶振等效为一个电感，所以只要晶振的两端并联上合适的电容它就会组成并联谐振电路。这个并联谐振电路加到一个负反馈电路中就可以构成正弦波振荡电路，由于晶振等效为电感的频率范围很窄，所以即使其他元件的参数变化很大，这个振荡器的频率也不会有很大的变化。。2)测试时要严格按照标准的测试电路和测试环境进行测试。3)在没有相当的测试设备和测试人员的情况下,不建议客户自行测试晶振,更不能随意调试晶振,测试设备的等级应至少比晶振指标高一个数量级。

温补晶振4.恒温晶振OvenControlledCrystalOscillator（OCXO）：采用精密控温，使电路元件及晶体工作在晶体的零温度系数点的温度上温补晶振7、频谱纯度：频率稳定度的一种频域量度，它通常用信号边带的噪声功率谱中每赫兹带宽的噪声功率相对于总信号功率的分贝数来表示；8、谐波失真：用不希望的信号频谱分量与有用信号频率的谐波关系描述的非线形失真；9、再现性：振荡器经过规定的时间间隔，再加电一段时间后返回原来频率的能力；。中精度产品频率稳定度为10-7~10-8，高精度产品频率稳定度在10-9量级以上。主要用作频率源或标准信号